Contacts:

Тестирование интегральных схем

Институт Радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, Кафедра конструирования и технологии проектирования электронных средств

Специальность: 11.04.03 Конструирование и технология электронных средств

Индекс по учебному плану: Б1.В.02.05

Дисциплина: Тестирование интегральных схем, 3 семестр

Количество часов: 72 из них: лекции - 16, лабораторные работы - 12,  самоподготовка - 43,7

Форма контроля: зачет (3)

Аннотация:

Основной целью изучения дисциплины является формирование компетенций, необходимых для профессиональной деятельности в области функционального тестирования интегральных схем.

 

Содержание дисциплины
1. Введение в тестирование интегральных схем;
2. Тестирование цифровой логики
3. Тестирование памяти
4. Тестирование аналоговыми и смешанными сигналами
Ключевые слова: интегральная микросхема, функциональный контроль, тестовая последовательность, алгоритм, входное воздействие
Авторы курса: 
Насыбуллин Айдар Ревкатович, д-р. техн. наук, доцент, профессор, и.о. заведующего кафедрой, Кафедра конструирования и технологии производства электронных средств, 
Институт радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, ARNasybullin@kai.ru
Ишкаев Тимур Маратович, канд. техн. наук, доцент, Кафедра конструирования и технологии производства электронных средств, 
Институт радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, TMIshkaev@kai.ru